（1）篩分法。優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、設(shè)備造價低，常用于大于40um的樣品。缺點(diǎn)：結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
（2）顯微鏡（圖像）法。優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀，可進(jìn)行形貌分析，適合分布窄（最大和最小粒徑的比值小于10：1）的樣品。缺點(diǎn)：代表性差，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩，無法分析小于1um的樣品。
（3）沉降法（包括重力沉降和李新沉降）。優(yōu)點(diǎn)：操作漸變，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測試范圍較廣。缺點(diǎn)：測試時間較長，操作比較繁瑣。
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